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DRAM 老化修復(fù)設(shè)備

應(yīng)用范圍：

對封裝后的芯片顆粒進(jìn)行高低溫與大電流環(huán)境下的老化測試，在測試中對顆粒內(nèi)部缺陷進(jìn)行修復(fù)

應(yīng)用產(chǎn)品：

GTK直線電機(jī)/CTH系列

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